06国際画像機器展

新着情報

2006年12月11日

2006年12月6～8日、横浜のパシフィコで開かれた'06国際画像機器展に当社の高精度3次元画像計測システム「3DM-FotoMetrics」と「OKIO-II」を出展しました。多数のご来場有難うございました。

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