当社の高精度3次元写真計測システムを12月7日から9日まで開催された'05国際画像機器展(パシフィコ横浜)に出展しました。また、7日に当社代表の徐が、国際画像セミナーにて「非接触高精度3次元写真計測・測定：技術とビジネス」という題で講演しました。多数のご来場有難うございました。